Zeta100電位納米粒度分子量分析儀的測(cè)量要求

更新時(shí)間：2025-04-30

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　　Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是依據(jù)Stern理論所描述的溶液界面靜電雙電層現(xiàn)象所設(shè)計(jì)的電位測(cè)試儀。Zeta電位（z）是膠體穩(wěn)定性的關(guān)鍵指標(biāo)，Zeta電位絕對(duì)值越大（即越正或者越負(fù)），膠體越穩(wěn)定，因此對(duì)膠體zeta電位的測(cè)試是有必要的。

　　Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號(hào)的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，又稱Stern層；另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴(kuò)散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周圍溶液中，構(gòu)成擴(kuò)散層。

　　位于Stern層的反離子由于強(qiáng)大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱，形成了擴(kuò)散層。兩層之間的邊界被定義為滑動(dòng)層或剪切層。顆粒做電泳運(yùn)動(dòng)時(shí)，會(huì)帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動(dòng)，與液體之間形成滑動(dòng)面，定義滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位分析儀。

　　測(cè)量要求：

　　測(cè)量粒徑前，需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)、介電常數(shù)用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側(cè)水滴，兩個(gè)塞子外側(cè)一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡，電極上氣泡如發(fā)現(xiàn)電極變黑，需更換實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì)。

　　不可用于測(cè)量有機(jī)分散體系實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池測(cè)量溫度不可高于70度使用濾紙過(guò)濾時(shí)，舍去過(guò)濾后的第一滴樣品，以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池在Zeta電位分析儀測(cè)量時(shí)需自帶：卷紙、多個(gè)注射器（5ml）、多個(gè)離心管（用于稀釋樣品）使用。

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